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高溫儲存（High temperature storage life test：HTSL）
測試目的：模擬芯片被使用前,長時間儲存的情況。
測試條件：150 ℃，測試時間：1000hrs
樣品數(shù)：25ea/lot , 3lots
測試讀點(diǎn)：168 、500 、1000hrs
依據(jù)規(guī)范：JESD22-A103
