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溫濕度無偏壓高加速應力實驗（Un-bias High accelerated temperature and humidity stress test: uHAST）

測試目的：芯片處于密閉空間內高溫、高濕、高壓的加速因子下，以實驗封裝的抗腐蝕能力，確定其可靠性。

測試條件：130℃/110 ℃ ,85% RH，蒸氣壓:33.3/17.7 psia，測試時間：96/264hrs

樣品數：25ea/lot , 3lots

參考規(guī)范：JESD22-A118



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