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低溫工作壽命實驗（Low temperature operating life test :LTOL）
測試目的：芯片處于低溫條件下，加入動態(tài)信號，并長時間工作，以評估“熱載子衰退效應(yīng)”（Hot carrier degradation）。
測試條件：結(jié)溫(Tj)≦50℃，電壓Vcc≧Vccmax ，測試時間：1000hrs
樣品數(shù)：32ea/lot , 1lot
測試讀點：168 、500 、1000hrs
參考規(guī)范：JESD22-A108
