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高溫工作壽命實驗（High temperature operating life test :HTOL）
測試目的：芯片處于高溫條件下，加入動態(tài)信號，并長時間工作，以評估其使用壽命，并確定其可靠性。
測試條件：結(jié)溫(Tj)≧125℃，電壓Vcc≧Vccmax，測試時間：1000hrs
樣品數(shù)：77ea/lot , 3lots
測試讀點：168 、500 、1000hrs
參考規(guī)范：MIL-STD-883 Method 1005.8、JESD22-A108
Useful life
